O SPM (Scanning Positron Microscope), como é denominado, está a ser desenvolvido pela Universidade Militar de Munique, na Alemanha, utilizando anti-matéria para gerar as imagens resultantes das análises, mais precisamente os positrões, ou anti-electrões, que possuem a mesma massa do electrão mas com as demais propriedades opostas a este último.

Segundo a reportagem publicada pela Scientifc American, este microscópio adquire os positrões de um isótopo de sódio, que depois passam por uma série de campos eléctricos que servem para focar o feixe de positrões, fazendo com que este venha a ter um diâmetro de dois mícron.

Será com este minúsculo feixe que a análise dos materiais será realizada. Graças à carga dos positrões, o feixe é direccionado para as imperfeições do material que são como ''lacunas'' formadas a partir da falta de um núcleo com carga positiva naquela área.
Como não existe o núcleo, a probabilidade da existência de electrões também é reduzida, pelo que a probabilidade de anulação dos positrões com os electrões é reduzida, promovendo uma maior duração de vida para o feixe.

Ao anularem-se, os positrões e os electrões geram uma luminosidade e, com a medição do intervalo de tempo entre a emissão do feixe e a luz resultante da anulação das partículas, é possível o cálculo do número de lacunas existentes numa dada região.

Os responsáveis pelo SPM esperam desenvolver mais o microscópio que, a médio prazo, poderá ser utilizado para analisar falhas como a corrosão ou até mesmo problemas em materiais semicondutores.

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